仪准科技（北京）有限公司

手动探针台八寸

型号： PW-600/PW-800 规格： chuck尺寸150mm（200mm） X,Y电动移动行程150mm（200mm） chuck粗调升降8mm，微调升降30mm 可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜 针座摆放个数6～8颗 显微镜X-Y-Z移动范围2... ...

实验室手动探针台半导体失效分析

型号： PW-600/PW-800 规格： chuck尺寸150mm（200mm） X,Y电动移动行程150mm（200mm） chuck粗调升降8mm，微调升降25mm 可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜 针座摆放个数6～8颗 显微镜X-Y-Z移... ...

iv自动曲线量测仪电流电压测试开短路测试仪芯片

iv自动曲线量测仪电流电压测试开短路测试仪芯片 验证及量测半导体电子组件之电性 参数及特性,比如电压-电流、电容-电压特性曲线,iv自动曲线量测仪电流电压测试开短路测试仪芯片 ...

芯片测试失效分析开短路曲线量测仪

iv自动曲线量测仪ic失效分析半导体分析设备I/V CURVE Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏电) Test ...

六寸八寸探针台probe电性测试

六寸八寸探针台probe电性测试 型号： PW-600/PW-800 规格：chuck尺寸150mm（200mm） X,Y电动移动行程150mm（200mm） chuck粗调升降8mm，微调升降25mm 可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜 针座摆放... ...

decap酸开封机自动ic反向

decap酸开封机自动ic反向 快速的IC蚀刻时间 即使是易损坏的器件也能容易的开封 设计紧凑，占地面积小 专为铜线器件的开封设计（SAME 777Cu） ...

微光显微镜emmi漏电定位失效分析

光发射显微镜是器件分析过程中针对漏电失效模式，不可少的分析工具。器件在设计、生产制造过程中有缘缺陷，或者期间经过外界静电击穿，均会造成器件漏电失效。漏电失效模式的器件在通电得状态下，内部形成流... ...

激光开封机decap开帽开盖

激光开封机decap开帽开盖： 1、对铜制成器件有很好的开封效果，良率高于90%。 2、对环境及人体污染伤害交小，合理念。 3、开封效率是普通酸开封机台的3~5倍。 4、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等... ...

四寸手动探针台 电性测试仪 失效分析设备

四寸手动探针台 电性测试仪 失效分析设备 型号： PW-400 规格： chuck尺寸100mm X,Y移动行程100mm chuck Z轴方向升降10mm（选项） 搭配AEC实体显微镜 针座摆放个数... ...

X-ray光检测测试失效分析

Feinfocus作为高分辨率X光检测设备研发、设计和制造系统供应商，是1982年早成立于德国的系统供应商；现有过2800台Feinfocus的X射线设备在范围内被投入使用。Feinfocus拥有目前世界上的X射线设计理... ...

手动分析RF高频探针台PW-800价格

点针工作站手动分析探针台失效分析半导体测试元器件电性能测试 ...

切割研磨机芯片测试失效分析半导测

切割研磨机芯片测试失效分析半导测 样品切割断面精细研磨及抛光去层研磨失效分析 主要应用在芯片工艺分析，失效点的查找及芯片剥层等方面的样片制备。该设备可以对样片进行冷埋注塑、切割、精细研磨及抛光 ...

漏电微光显微镜分析仪emmi芯片

漏电微光显微镜分析仪emmi芯片 漏电微光显微镜分析仪emmi芯片失效分析半导体测试 当氧化层崩溃、静电放电破坏、闩锁效应时，产生了过量的电子和空穴结合并产生跃迁光子，由探测器通过显微镜收集这些光子并地... ...

ic失效分析 ic开封decap开帽机

封装产品进行开封，使chip芯片出来，方便后续分析（观察芯片表面、做EMMI、做去层、探针做电信号测量等）集成电路开封decap反向去封装激光开封机ic开帽开盖ic失效分析 ic开封decap开帽机 ...

光学显微镜失效分析设备蔡司

光学显微镜失效分析设备蔡司无论是材料研发，质量控制或者失效分析，材料显微镜每天都在面对越来越艰的挑战。卡尔蔡司不断研制不断开拓的Axio Imager系统平全可以迎接这些挑战。崭新的Axio Imager光学显微... ...

金相显微镜制备样片的观察分析及封装开帽后的检查分析

3d显微镜制备样片的观察分析及封装开帽后的检查分析 ...

金相显微镜样品外观形貌检测失效分析

金相显微镜样品外观形貌检测失效分析 主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找 ...