探针台是半导体行业、光电行业、集成电路以及封装等行业的测试设备。探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
仪准探针台分类
探针台从操作上来区分有：手动探针台、半自动探针台和全自动探针台。
从功能上来区分有：温控探针台、真空探针台（超低温探针台）、RF探针台、LCD平板探针台、霍尔效应探针台和表面电阻率探针台。
仪准经济手动型探针台
可根据客户需求定制
chuck尺寸：4"*4" 或6"*6" 或8"*8" 或12"*12" (可选）
X-Y移动行程：4"*4"或 6"*6"或 8"*8"或 12"*12"(可选）
chuck Z轴方向升降10mm（选项）方便探针与样品快速分离
显微镜：金相显微镜、体式显微镜、单筒显微镜（可选）
显微镜移动方式：立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型（可选）
探针座：有0.7um、2um、10um可选，磁性吸附带磁力开关
可搭配Probe card测试
适用领域：晶圆厂、研究所、高校等
Failure analysis 集成电路失效分析
Wafer level reliability晶元可靠性
Device characterization 元器件特性量测
Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)
IC Process monitoring 制成监控
Package part probing IC封装阶段打线品质测试
Flat panel probing 液晶面板的特性测试
PC board probing PC主板的电性测试
ESD&TDR testing ESD和TDR测试
Microwave probing 微波量测(高频)
Solar太阳能领域检测分析
LED、OLED、LCD领域检测分析
2，LCD手动探针台
白炽灯或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量测分析
机台尺寸（mm）：800乘600、500乘400、300乘300
3、电动型探针台
chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不锈钢或镀金）
X,Y电动移动行程300mm 乘 300mm
chuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调土1u
可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数8～12颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
材质：花岗岩台面+不锈钢
可搭配Probe card测试
适用领域：12寸Wafer、IC测试之产品